上海2014年5月16日電 /美通社/ -- 電勢誘發(fā)衰減（PID）已經(jīng)成為太陽能行業(yè)關注的重要問題 -- 因為它會大大降低光伏系統(tǒng)的輸出功率。當系統(tǒng)電壓對地的電壓差高達1000 V，而且在諸如潮濕、高溫等環(huán)境條件下，會導致模塊性能在生命周期之內逐漸降低，從而降低光伏系統(tǒng)的輸出功率。

PID認證可以測量出太陽能發(fā)電廠中的太陽能電池組件抵御環(huán)境條件的能力，某些條件可能會影響單個模塊的性能以及光伏系統(tǒng)的發(fā)電量。一系列的測試先從基礎測試開始，其中包括較大功率測定、電致發(fā)光影像和接地連續(xù)性測試。此后，在不同的環(huán)境和不同的電壓級別/嚴酷程度下，施加電壓至模塊。最后，檢查模塊，并獲得它們對PID效應的抵抗能力的測試結果。

在晶體硅光伏組件中，因雜散電流而導致的PID效應有可能引起光伏系統(tǒng)性能的衰減，甚至高達30%的功率損耗。除了太陽能電池本身的結構之外，產(chǎn)生有害漏電電流的原因還包括單個光伏模塊的接地電壓。在大多數(shù)不接地的光伏系統(tǒng)中，具有接地正電壓或負電壓的光伏模塊會產(chǎn)生PID效應。PID效應大多發(fā)生在接地負電壓條件下，而且高的系統(tǒng)電壓、高溫、高濕度會加速這一過程。

迄今，德國萊茵TUV已針對PID項目開展了廣泛的研究，并發(fā)表多篇論文。